随着半导体工艺不断地进步,那些原本存在芯片中的大型存储器会转变成数十或数百个小型的存储器阵列,并且散布在芯片中各个角落。这些阵列有的是寄存器堆,FIPO,或者是在存储器管理系统中一些对性能要求较高的存储器。针对这种类型的小型阵列,如果想要侦测出与速度相关的瑕疵以及固定逻辑(stuck—at)故障,其实并不是一件容易的事。
电子设计应用2004年10期
1《工程建设与设计》2024年6期
2《安徽建筑》2024年1期
3《人生与伴侣·共同关注》2024年2期
4《天津教育》2024年3期
5《现代经济信息》2024年5期
6《世界热带农业信息》2024年2期
7《家庭医学》2024年2期
8《学周刊》2024年10期
9《中国中医药现代远程教育》2024年8期
10《国际护理学杂志》2024年6期