NIST新式显微镜可测量纳米级磁铁属性

美国国家标准与技术研究院(NIST)的研究人员开发出一种新式显微镜——外差磁光微波显微镜(或称H-MOMM)，可以测量电子自旋的群集动力。纳米级磁铁是高速低功耗的“自旋电子”计算机内存的重要组成部分，而这种内存可能很快就会取代传统的随机存取存储器。

NIST 的研究人员使用H-MOMM 首次实现了对单个纳米级磁铁中的自旋弛豫(或阻尼)过程的量化。

利用这种显微镜，NIST 研究人员可以详细研究单个磁铁中自旋激化的上下波动。两束绿色激光合并产生微波，从而激发“自旋波”，即磁振荡。利用一束激光中的偏振光来分析这种激发模式。通过测量这种激发过程，找到电磁场与微波频率之间的函数关系，从而可以推断出每个纳米级磁铁中不同自旋波的阻尼。