爱德万测试（Advantest）新品发布

爱德万测试（Advantest）就新近推出的二款新品日前在北京举行了媒体发布会。发布会期间，爱德万测试（中国）管理有限公司业务战略发展高级总监陆亚奇先生就中国半导体市场需求、产业结构及增长率进行了分析并对该公司的新技术点作了介绍，详见以下图解：

China's Semiconductor Market

OngoingHeavy Reliance on IC Imports

Advantest Business Segments

New Businesses

■E-Beam Lithography

■EB lithography with unique Character Projection technique presents superior resolution and throughput performance meeting requirements for the 1Xnm next-generation technology node

E3310

■SEM Metrology / Review

■Multi Vision Metrology 3D SEM supports next-generation wafers and photomask at dimension as small as 1Xnm.

F7000

New Businesses

■Terahertz Spectroscopy Imaging System

■Non-Destructive Analysis of Pharmaceuticals,Chemicals, Food and Agricultures products

■High-speed measurements with small footprint and compact design

■Frequency up to 7THz, support transmission,reflection, ATR and polarization mode

■Chip Mold Thickness Analysis System

■Mold thickness measurement by using Terahertz technology.

■250 units/hour, multipoint on the chip, auto measurement

■Within ±3um accurate thickness measurement

接下来由爱德万测试（中国）管理有限公司北京测试技术部专家工程师张可就爱德万测试发布首个光收发器整体测试解决方案作了介绍：

新T2000 28G OPM 光端口测试模块用于对光电转换器实现接收和发送数据的测试。和传统线缆传输相比，光收发芯片在远距离传输中实现更高的速度和更小的功率损耗。这种技术具有广阔的应用前景比如可应用在移动通信和云计算领域等需要管理大量数据传输和数据中心。

依据半导体工业发展蓝图，光收发芯片现在可达40 Gbps 的互连收发速率，这一数据在2017年可提升到100 Gbps，2020年更可达到400 Gbps。爱德万测试的新测试解决方案能够经济高效地测试这些高速芯片。

搭载了新型测试模块的爱德万测试T2000 平台，单个模块可同时测试多达4 个100 Gbps 的高速收发器。方案执行中光纤端口和电子28 Gbps端口的16 个通道都被用于测试各个100 Gbps 收发器，这种集成的自动测试设备（ATE）解决方案实现更快的循环周期和更高的运行效率，不仅可达成更低的测试成本，并且可以享受爱德万测试全球客户服务网络带来的充分支持。

V93K 模拟数字芯片测试仪

今天，为了满足市场对于产品的功能、性能以及系统集成度持续增长的需求，芯片制造商较多采用SOC 技术，将越来越多的功能集成在一颗芯片之上，这其中可能包括了IP 内核、复杂的数字逻辑电路、模拟电路、RF 射频电路、嵌入式存储器、高速数据总线和通讯接口电路，然而，测试这样复杂的SOC 芯片却是一个巨大的挑战。

爱德万测试V93K 超大规模SOC 测试系统正是为了满足市场的这个需求而量身度造的，它使您可以在一个测试平台之上，以最低的测试成本，快速、有效而全面地完成上述的各项测试，确保您在激烈的市场竞争中立于不败之地。

V93K 是单一平台的可升级系统

√数字测试通道数：高度可扩展性，例：LTH使用PS1600 数字通道卡，可从128 通道扩展至4096 通道（以128 通道为最小扩展单位）

√数字测试速度：以PS1600 数字通道卡为例，具有从100M～1600M 数据率根据要求升级，无需更换板卡

√支持多种测试速度的数字通道板卡混插

√模拟测试：各类丰富的模拟测试模块可供选择

√RF 射频测试：可升级到4 颗器件的并行测试

√支持高速数字、复杂混合信号、Memory、Flash 等各类应用

√四种测试头(TH)型号：LTH（64 插槽测试头），STH （32 插槽测试头），CTH（16 插槽测试头），ATH（8 插槽测试头）