电子元器件产品质量自动检测技术的研究与应用

吴永乐

【摘要】 对于电子元器件来说，它是电子产品基本构成部分，也是电子产品实现自身功能的根本，要保证电子元器件产品质量，就要应用一定的自动检测技术。因此，本文将从电子元器件基本情况入手，结合影响电子元器件产常见故障，研究怎样做好电子元器件产品质量自动检测系统设计。

【关键词】 电子元器件 产品质量 自动检测技术

前言：众所周知，质量越好的电子元器件功能就越完善，电子生产商经济效益也就更好，为保证电子产品生产，就需要找出电子元器件产品常见故障，做好电子元器件质量自动检测设计，因此，有必要对电子元器件产品质量自动检测技术进行研究。

一、电子元器件概述

对于电子元器件来说，其构成部分有两种，一种是元件，它是电子元器件加工中化学成分不需要该改变的部分，也不会影响电子元器件电压与电流[1]。另一种是器件，它在电子元器件加工中需要改变化学成分，进而产生电子，也对电气元器件电流与电压有一定影响。对于元件与器件设计来说，需要以设计结构为基础，重视技术的应用，同时做好相互协调工作，只有这样才能强化电子元器件功能，发挥其应有作用。

二、电子元器件产品常见故障

在应用电子元器件产品的过程中，经常会发生以下故障，它们也是影响产品质量的关键：第一，电路就接点开路故障。这是电子元器件最容易发生的故障，通过研究发现导致故障发生主要原因在于电子元器件在生产中就存在问题，有些电子元器件在出厂前就存在接触不良、线路焊接差的情况[2]。第二，元器件损坏。很多电子元器件在发生使用中经常会因保险电阻出现过流的而发生熔断，进而诱发元器件被损坏。第三，软件故障。这也是电子元器件容易出现的质量问题之一主要是电解电容器在使用中出现了漏电等不良情况，但由于该故障较为隐蔽，不易被发现，检测难度也很大，它也是电子元器件产品质量检测难点。

三、电子元器件产品质量自动检测系统设计

1、谐振频率检测。在电子元器件产品质量自动检测技术中，可以将谐振频率检测作为主要技术之一，如在检测电子元器件产品谐振频率的过程中，可以将51单片机作为检测设备，之所以选用这种检测设备主要是由于其具有计数作用，如果晶振频率较低，就要在既定时间内计算好振荡波形，进而获得晶振谐振频率。在利用该检测设备检测的过程中，要先开启单片机控制模式功能，然后将需要检测的晶振引脚与测量电路连接在一起，在保证晶振振荡波形稳定以后再检测，同时，还要利用单片机做好振荡波形计数，再确定好检测时间，在检测完成以后，就可以读取检测数值，并获得晶振谐振频率[3]。

2、电子元器件引脚可焊性检测。电子元器件引脚可焊性检测在特定温度与助焊剂的作用下可以让母线表面与软焊材料很好的结合在一起。电子元器件引脚可焊性检测也是产品质量检测的重要组成部分，因此，可以采用以下几种检测方法：第一，焊槽法，在这种检测方法中，应先将检测产品浸泡含有助焊剂的液体中，时间为一分钟，取出后将元器件引脚以每秒25mm左右的速度垂直放置在焊槽中，时间为20秒左右。然后再用10倍左右的放大镜检测引脚，当其90%的表面被覆盖且保证均匀、平滑以后则意味着达到可焊性要求。第二，焊球法，这种检测方法的大致过程与焊槽法基本相同，先将焊料放置在特定加热设备上，让焊料融化成液滴，然后再将其防止在焊球中，观察引脚润湿时间，润湿时间越多则意味着可焊性越好。

3、气密性检测。对于电器元件气密性检测来说，应采用先细检后粗检的方式，在细检中多采用氦质谱背压检测方法，也就是将元件防放置在含有一定氦气的封闭罐中，在一段时间以后观察元件是否出现泄漏，如果出现泄漏则意味着氦气已经进入到元件中，然后将元件取出，将表面氦气去除后再放到氦质谱仪测试箱中。在氦气脱离元件以后再用质谱仪获得离子流，这样也可以从中获取电量，了解元件的泄漏情况，进而了解电子元器件气密性。

4、电子元器件引脚外形检测。尽管电气元器件设计中允许存在合理误差，但有些电子元器件引脚外形误差却超出了既定要求，因此，应重视电子元器件引脚外形检测，防止产品质量问题扩大化。在检测电气元器件引脚外形中，可以将CCD图像传感器作为主要检测技术，在该技术中不仅含有测试技术，还具有一定的文字识别能力，所以，要将该技术作为电子元器件引脚外形检测重点。

结束语：通过研究发现，电子元器件是电子产品重要组成部分，缺少了电子元器件电子产品也就不具有应有作用，但受多种因素影响，电子元器件产品质量容易出现问题，针对这种情况就需要相关工作人员联系实际情况，采用合理的检测技术。本文有针对性的提出了一些做好电子元器件产品检测的技术，希望能为相关人士带来参考。

参 考 文 献

[1]臧建莲. 电子元器件产品数据库的技术特点分析[J]. 电子元件与材料，2014，03：93-94.

[2]印晓红. 军工产品中电子元器件的质量控制研究[J]. 中国高新技术企业，2015，13：22-23.

[3]关本霞. 电子元器件的检测方法探讨[J]. 科技创业家，2013，21：34.