由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快速、抗干扰、高精度测量。涵盖光学/光电研究院所、光学/光电子元器件生产企业等应用领域。开发具有独立知识产权的非球面面形检测系统,不仅可以解决光学领域的非球面测量难题,而且能够节约大量的外汇资源。目前样机已经开发,作为精密光学测量系统,生产规模不大,但对社会的贡献明显。
西安工业大学学报2020年1期
1《清华大学教育研究》2024年1期
2《无线互联科技》2024年5期
3《湛江文学》2024年2期
4《山西师大学报(社会科学版)》2024年2期
5《中外医疗》2024年5期
6《人人健康》2024年8期
7《花卉》2024年8期
8《西部广播电视》2024年4期
9《滨州学院学报》2024年1期
10《英语教师》2024年5期