用正电子湮没谱学研究Fe(III)在γ-Al2O3载体中的分散

2011-10-25 07:57张婧张奇林朱俊
大众科技 2011年3期
关键词:正电子羟基寿命

张婧 张奇林 朱俊

(武汉大学物理科学与技术学院,湖北 武汉 430072)

用正电子湮没谱学研究Fe(III)在γ-Al2O3载体中的分散

张婧 张奇林 朱俊

(武汉大学物理科学与技术学院,湖北 武汉 430072)

用XRD、XPS、TG/DTA及正电子湮没谱学研究以浸渍法将三价铁离子(Fe(III))加载于多孔γ-Al2O3载体上后,Fe(III)在载体中的分散过程。研究了Fe(III)/γ-Al2O3原样,经60°C脱水2h以及经500°C烘烤1 h后正电子寿命随Fe(III)含量的变化;高含量(9.6%)、低含量(1.8%) Fe(III)/γ-Al2O3样品与纯γ-Al2O3载体的TG/DTA及其正电子寿命随烘烤温度的变化。实验表明:浸渍法能使Fe(III)均匀地分散于载体二次孔内表面,置换出部分羟基中的氢;只有在高于400°C烘烤后,Fe(III)和载体才能发生明显的相互作用,表现出应有的活性。

分散;正电子湮没谱学;铁离子;Al2O3

活性金属组份在多孔材料中的分散一直是人们感兴趣的问题,为此已建立了许多物理模型来研究多孔材料及活性组分在其中的分散过程。由于有很强的应用价值,廉价无毒的铁离子常被用于研究其在多孔载体中的分散。目前研究金属离子在多孔材料中分散的方法较多,金属离子在多孔γ-Al2O3载体中的扩散机理研究也较多。例如,可用SEM、XRD、BET、IR等方法来表征多孔材料的孔结构,及活性金属组份在其中的分散。本文将利用XRD、XPS、TG/DTA和正电子湮没寿命谱学来研究Fe(III)在γ-Al2O3中的热分散过程。

正电子是电子的反粒子。当高能正电子由放射源射向样品后,在几个ps(10-12s)内热化。热化后的正电子除了能与电子直接发生湮没、或形成仲正电子素(p-Ps)后再湮没产生γ光子(其寿命都不超过0.5 ns)外;还有一部分正电子能与表面价电子形成正正电子素(o-Ps,其本征寿命为142 ns)。由于载体表面存在着猝灭效应,因此可以利用o-Ps的寿命及相应的强度对材料微结构的敏感变化来研究其结构性质。正是由于正电子湮没谱技术的无损伤性以及对材料内表面性质的敏感性,正电子湮没谱学也常被用于多孔材料孔径及孔内表面状态的研究,并从理论上研究正电子在多孔材料中的寿命。

(一)实验

Fe(III)/γ-Al2O3原样是采用不同浓度的硝酸铁水溶液浸入γ-Al2O3粉体后烘干制备的,其 Fe(III)含量分别为 1.8%、4.1%、5.2%、6.2%、7.4%和9.6% (以Fe3+质量计)。然后将其粉体压成片状样品;另外,还分别将这些原样经不同温度烘烤后形成新的样品。

XRD测量采用德国BRUKER AXS公司的D8 ADVANCE型号X射线衍射仪,Cu阳极,电压和电流分别为40 kV和40 mA,扫描速度为4°/min;XPS采用英国KROTOS的800SIMS型号电子能谱仪,分辨率为0.9 eV/104,信背比为30:1;热分析采用德国耐驰公司的Thermal Analyzer型号综合热分析仪,测量样品的热失重(TG)和差热分析(DTA)性质,温度范围从室温到800°C,升温速度为10°C/min,充氩气保护。正电子寿命谱仪的时间分辨率约为0.24ns,活度约为10µCi的22Na源放在两片相同的样品中间。每次正电子寿命谱的测量都保持参数相同,除原样样品是在室温大气中进行外,其它所有的都在室温真空(1.5Pa)中进行,每个谱的计数为1.5×106。

(二)结果与讨论

实验中的γ-Al2O3是由假一水氧化铝脱水制得的。在脱水过程中,氧化铝首先形成数纳米 (nm)的一次微粒,再由一次微粒聚成二次粒子,并由这二次粒子聚集形成其多孔载体。γ-Al2O3的孔主要有两种形式:一种是一次微粒聚集间隙形成的微孔,其平均孔径约为0.9 nm,另一种是由二次粒子聚集间隙形成的二次孔,其平均孔径为 7.7 nm。比表面积为183m2/g。一般认为,在γ-Al2O3载体内表面存在多种活性中心,它主要以羟基的形式表现出来,不同位置上的活性中心具有不同的化学活泼性。在一定的条件下,金属离子能与活性羟基发生相互作用,这种相互作用是按活性中心不同的活泼性高低顺序发生作用的,从而影响金属离子在载体内表面上分散。

1.XRD分析

分别测量了经600°C和100°C烘烤后Fe(III)/γ-Al2O3(9.6%)样品于3°~70°内的XRD图谱,如图1所示。可以看出,两样品都没有表现出明显的结晶峰。说明以浸渍法制备的Fe(III)/γ-Al2O3样品在低温烘烤后是以离子形态分布在载体中;高温烘烤后,也没有出现团聚结晶现象。

图1 Fe(III)/γ-Al2O3(9.6%)样品分别经600°C和100°C烘烤后的XRD图谱

2.XPS分析

图2为Fe(III)/γ-Al2O3(9.6%)样品在经不同温度烘烤后的XPS全谱,以及Fe、Al和O的精细扫描谱。可以看出,像9.6%这样高含量的样品,其XPS测得的Fe(III)峰值非常小。由于XPS可探测的样品深度只有几个nm,所以其探测的主要是γ-Al2O3二次微粒的外表面信息。这说明Fe(III)在未处理以及经不同温度烘烤后,都分布在载体的内表面。这是由于铝氧四面体带负电,即载体骨架带负电,使得Fe(III)不容易跑到载体的外表面上。从图 2可以看出,不同温度处理后 XPS全谱图类似,表明载体结构没有发生明显的变化,Al和O峰也没有化学位移,说明Fe(III)和载体的相互作用是以Fe(III)取代羟基中氢的方式进行的。

图2 Fe(III)/γ-Al2O3(9.6%)经不同温度烘烤后样品XPS全谱和Fe(III)、Al和O的精细谱

3.热分析结果

分别测量了γ-Al2O3载体原样、Fe(III)/γ-Al2O3(1.8%)原样与 Fe(III)/γ-Al2O3(9.6%)原样及 Fe(III)/γ-Al2O3(9.6%)经500°C烘烤1h后样品的TG和DTA性质,如图3所示。从纯γ-Al2O3载体的TG来看,整个热失重过程可分为脱去物理吸附水(<200°C)与脱去化学吸附水(>200°C)两部分。对于纯γ-Al2O3载体,其脱去物理吸附水所致失重为13.4%,对低含量(1.8%)的样品,脱去物理吸附水及硝基的量为 12.0%,对高含量(9.6%)的样品为11.1%,而对烘烤后的样品为9.4%,该结果清楚地表明由于Fe(III)的引入,载体的物理吸附水能力下降。

图3 四种样品的 TG/DTA: (a) 纯γ-Al2O3,(b) Fe(III)/γ-Al2O3(1.8%)原样,(c) Fe(III)/γ-Al2O3(9.6%)原样,(d) Fe(III)/γ-Al2O3(9.6%)经 500°C 烘烤1h后的样品

由于载体表面或内部存在羟基,两个羟基在受热时能形成一个水分子而脱去。不同的羟基由于结合能不同,表现为不同的脱水温度,所以导致TG出现分段现象。通过分析DTA,可将脱去化学吸附水又分为三段:200°C~400°C,400°C~600°C,600°C~800°C。对于纯γ-Al2O3载体,三段脱去化学吸附水分别失重为 4.2%,3.4%,1.5%。认为位于 200°C~400°C的脱附为边角上的羟基脱附,400°C~600°C的脱附为平台上的羟基脱附,高于 600°C的脱附为微孔的羟基,它会导致微孔的坍塌,在DTA曲线上表现为放热,最终会形成α-Al2O3。

低含量(1.8%)的三段脱去化学吸附水的失重为 3.7%,3.3%,1.0%;高含量(9.6%)的三段为 2.7%,2.2%,0.6%;而高含量(9.6%)经过烘烤后的三段脱去化学吸附水的失重为2.6%,1.5%,1.0%。从四个样品的200°C~400°C的TG及 DTA的值来看,通过浸渍法可将Fe(III) 吸附在载体的内表面上,其中部分Fe(III)取代羟基中的氢,并产生放热,也就是说,γ-Al2O3载体与金属离子发生了相互作用。从四个样品的三段TG及相应的DTA的值来看,Fe(III)首先置换边角上的羟基,然后才是置换平台上的羟基,并能稳定地附着在基平台上。在高于 600°C烘烤下,铁离子可以进入微孔内,从而使载体的热稳定性提高。

4.正电子寿命谱分析

测得的正电子寿命谱用PATFIT程序进行4个寿命分解,其中,第一寿命分量为正电子在体相中的湮没与p-Ps的湮没;第二寿命分量为正电子在孔中的自由湮没;第三寿命分量(寿命和强度分别用τ3和I3表示)对应 o-Ps在微孔中的湮没;第四寿命分量(寿命和强度分别用τ4和I4表示)对应o-Ps在二次孔中的湮没。

(1)含量的影响

图4为Fe(III)/γ-Al2O3原样及经60°C脱水2h后样品的τ4及 I4随含量的变化。由图可以看出,原样样品的τ4从纯γ-Al2O3的 25.5 ns增大到低含量(1.8%)样品的 27.7ns,然后,随含量的增加略微有增大,当含量大于5.2%后基本保持不变;而I4从纯γ-Al2O3的6.5%急剧减小到低含量的3.5%,高含量时I4再略有下降。这是由于 γ-Al2O3中铝氧四面体带负电,导致其二次孔表面带有负电,它能吸引正电子而形成正电子素(Ps),Fe(III)取代活性羟基导致表面负电性下降,从而导致I4的减少,高含量时,由于 Fe(III)缺乏价电子,导致I4进一步的减少;同时,Fe(III)的引入略微减少了载体的物理吸附水,导致τ4的上升。

图4 Fe(III)/γ-Al2O3原样和60°C脱水处理后τ4和I4随 Fe3+含量的变化

经 60°C脱水处理后,载体脱去了部分物理吸附水,τ4从纯 γ-Al2O3的 26.8 ns 逐步减小到高含量(9.6%)的 23.9 ns;I4首先从纯 γ-Al2O3的 3.7%减小到低含量(1.8%)样品的3.0%,并当含量增大时,I4缓慢减小。这是由于低热烘烤后载体部分脱水,Fe3+携带的络合水也已被脱去,失去络合水屏蔽后,Fe(III)会显示少量的活性,即有少量的化学猝灭效应表现出来;同时,60°C处理还不能使 Fe(III)与载体发生相互作用。所以,Fe(III)/γ-Al2O3样品的τ4随 Fe(III)的增多而均匀地减小;同时,由于价电子的减少,所有的I4都有减少,特别是相对于纯γ-Al2O3载体的I4减少得尤为明显。这说明在失去络合水后能明显减少Ps的生成几率。

(2)烘烤温度的影响

图 5为纯 γ-Al2O3载体、低含量(1.8%)和高含量(9.6%)样品的τ4及I4随烘烤温度的变化。当烘烤温度低于150°C时,载体还属于脱去物理吸附水阶段,此时载体表面电负性逐步显现出来;在高于150°C烘烤过程中,τ4不随烘烤温度而变化;同时由于脱去边角的化学吸附水,使其载体的负电性增加,表现为在400°C以下的温度烘烤后,I4线性地随烘烤温度而增加,而在 400°C以上的温度烘烤后,只是脱去平台的化学吸附水,所以I4不随烘烤温度而变化。

在烘烤过程中,Fe(III)获得了热能,能克服空间位阻的影响,与载体发生相互作用,使Fe(III)的活性逐步表现出来。从图中的变化快慢程度看,当烘烤温度小于 400°C时,低含量和高含量的样品的τ4变化趋势都为减小,并且高含量样品减小更明显。烘烤温度的升高导致 Fe(III)的化学猝灭明显起来,表现为τ4的减少,相对于低含量样品,高含量样品由于Fe(III)数量更多导致τ4减小更为明显;同时,对低含量样品,虽然 I4增加,但相对于纯载体而言,已明显减少了,即量样品 Fe(III)活化过程导致其价电子更少,减小o-Ps的形成几率,所以其I4减小。在400°C以上的温度烘烤后,所有的活化过程都已完成,τ4和I4应不随烘烤温度而变化。然而,在高温烘烤下,有一部分Fe(III)以及相应的阴离子(氧离子)由二次孔进入了载体内部,减弱了载体表面的负电性,导致在低含量时I4略有下降,τ4略有上升;但对高含量而言,少量的Fe(III)损失并不影响其表面态。这说明高于400°C烘烤时,对Fe(III)在载体中的活性没有明显的好处。

图5 纯γ-Al2O3与Fe(III)/γ-Al2O3(1.8%、9.6%)样品的τ4和I4随烘烤温度的变化

(3)高温烘烤后含量的影响

图 6为 500°C烘烤 1 h后样品的τ4及I4随含量的变化。经500°C烘烤后,Fe(III)已经与载体内二次孔表面发生的相互作用。在 1.8~9.6%范围内,τ4随含量线性地减小,表明Fe(III)是均匀地分散在载体的内表面上;从I4随含量的两段线性变化,我们可认为,在低含量时Fe(III)主要在边角上,而在高含量时有部分Fe(III)在其载体的内平面上,从而降低对载体的影响。

图6 500°C 烘烤后 Fe(III)/γ-Al2O3的τ4和I4随 Fe3+含量的变化

另外,实验也表明,长时间的烘烤和 1 h烘烤处理,结果相差不大,说明1 h的烘烤处理就能使Fe(III)完全活化。

(三)结论

实验结果表明,正电子湮没寿命谱对金属活性组份Fe(III)在γ-Al2O3载体中的相互作用以及载体内表面状态非常敏感。在低于 400°C烘烤后,由于正电子寿命谱与烘烤温度线性相关,表明几类活性中心的分类并不明显。浸渍法虽能使Fe(III)均匀分散,并使Fe(III)置换羟基中的氢;但只有经温度超过400°C的烘烤,才能使Fe(III)与载体发生明显的相互作用,从而实现Fe(III)在载体中的活化。然而,更高的烘烤温度没有必要;过多的铁离子会让部分铁离子不能起到应有的活性作用。

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TQ426.61

A

1008-1151(2011)03-0081-03

2010-12-31

国家自然科学基金项目“纳米金属催化剂微结构及特性的正电子谱学研究”(10675093)

张婧(1987-),女,江西宜春人,武汉大学物理科学与技术学院在读硕士研究生,研究方向为催化剂的正电子表征。

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