爱德万测试（Advantest）新品发布

爱德万测试（Advantest）新品发布

爱德万测试（Advantest）就新近推出的三款新品日前分别于上海、北京举行媒体发布会。发布会期间，业务战略发展部的高级总监陆亚奇先生就半导体市场需求，产业结构及增长率进行了分析和介绍。

以下是爱德万测试三款新品的用途和性能介绍：

Advantest推出1.6-Gbps数字模块，通过功能强大的EDA-LINK（FTA-ELINK）进行Protocol-Aware测试

全球领先的半导体测试设备供应商Advantest推出其全新的T20001.6GDM数字模块，旨在提高系统级芯片（SoC）在T2000的测试平台上的测试效率。

1.6 GDM模块集成了FTA+（Functional Test Abstraction Plus）新功能以实现Protocol-Aware测试，在测试过程中测试仪将直接以各种协议语言与待测芯片（DUT）进行通信。EDA工具FTA-ELINK将设计仿真器直接连接到T2000测试平台，此外，Verilog代码可以在带有1.6GDM模块的T2000 EPP（增强型性能套件）系统上运行。由于其向量发生器拥有了具备独立时序及存储功能的Protocol-Aware引擎，T2000可以在本地进行基于协议的I/O测试，从而实现高效的并行、并发测试，显著加快了用户从设计到出样的时间，提高了产品面市速度。

随着1.6GDM模块的推出，T2000EPP大大提高了其并行测试的能力，每个DUT的功能可以独立地监测和评价。新模块具有的矢量模式使得它在具有更高产能和可靠性的同时，与现有的1GDM数字模块完全兼容。

Advantest推出新款芯片供电电源，提高T2000测试平台的通用性和成本效益新DPS150AE模块为高、低电流器件提供高产出、高同测能力

全新的T2000增强型芯片供电电源DPS150AE模块，使得T2000测试平台可用于针对包括MPU、ASIC和FPGA等在内的大电流和低电压芯片的高精度测试。该模块提高了T2000以最低测试成本对以上芯片进行高产出、高同测的能力。

DPS150AE模块极大地提高了测试的灵活性，用户可以现场升级或者作为T2000 EPP（增强型性能套件）系统的选件进行出厂安装。通过模块的高速总线和Advantest的智能测试条件存储器（TCM），T2000 EPP系统可以使该模块同时测试多个器件，并且每个待测器件都可以进行独立监测和评估。

通过T2000EPP的TCM，用户可以迅速地设定和调整测试条件。这个功能预先加载了测试程序的所有参数并且具有编辑能力，测试工程师能够以图形方式在程序运行中实时进行修改。

DPS150AE有8个可支持高达16安培的大电流通道（HL）以及8个可支持2.66安培的低电流（LC）通道。DPS150AE还可以将不同模块上的多个通道并联，通过80个HC通道，每个通道提供16安培电流，产生高达1280安培的大电流。

Advantest最新推出基于V93000平台的PVI8悬浮式电源，进军高电压、大电流IC测试领域助力V93000应对SOC市场日益融合的趋势

最新推出了PVI8悬浮电源，扩展了其市场领先的V93000测试平台为嵌入式电源器件进行高电压、大电流测试的能力。该项性能的提升使V93000能够在同一平台上具有强大的电源以及足够的数字和模拟通道，从而为用户提供高并行度、低成本的嵌入式电源IC测试解决方案。

PVI8电源具有8悬浮通道和4象限运行设计，每通道可以提供高达80 V的电压和10 A的电流。它的8通道可以组合输出高达±80 A的电流，从而对待测器件进行高功率下的耐压测试。为了测试高压源，PVI8可凭借其悬浮设计通过堆叠产生±160 V的电压。

PVI8的测量范围和驱动范围是独立的，用户可以任意切换测量范围而不必担心待测器件遭到（电压或电流的）尖峰、断电、死锁或者损坏。

通过内在的向量控制运行模式，PVI8在电源测试过程中不需要与测试系统的CPU进行交互，大大加快了测试速度。通过保持恒定的向量速度，以及使用短功率脉冲以防止DUT过热，PVI8可以得到稳定的测试结果。

PVI8的每个VI通道都有自己的处理器和一个高达56 MB的内存，这使得其16位任意波形发生器（AWG）和全向量控制的数字化仪得以高效运行。在程序运行过程中，该处理器的大容量内存使得基于向量控制的仪器无需重新载入波形，从而允许在一次向量运行过程中进行多次测量。

Advantest的PVI8悬浮电源已经开始向全球的客户发货。该模块可作为V93000的选件在出厂时安装，也可以进行现场升级。

爱德万测试向长期合作客户Amkor出货第1000台V93000 Smart Scale

全球领先的半导体测试设备供应商爱德万测试已将其具有里程碑意义的第1000台V93000 Smart Scale测试设备出货长期合作客户Amkor。安靠技术是世界上最大的半导体封装测试服务提供商之一，也是超过300家世界领先的半导体公司和电子OEM的战略生产合作伙伴。安靠技术将利用此配置Pin Scale 1600和Pin Scale 9G卡的系统，为最新一代支援高画质多媒体介面（HDMI）与行动高画质连结 （MHL）技术的半导体产品打造具成本经济效益的测试解决方案。

所有种类的V93000 Smart Scale测试设备都互相兼容，让客户可以随着IC产量和测试要求的变化，将他们的产品测试从一种设备转向另一种设备。

V93000测试平台被安靠和全球众多OSAT公司广泛使用，以通用per-pin结构为特点，为高级半导体设计公司提供最灵活和经济的测试解决方案。公司的Pin Scale 1600电子信道卡性能广，通过运用此种电子信道卡，测试设备可以履行被测设备所需的任何功能。爱德万测试的创新技术让每个pin以自己的时钟域运行，与任意被测设备精确数据速率的要求匹配，提供全面的测试。这使V93000具有电源调制、抖动注入、协定通讯和其他关键功能，提供自动测试设备层面的模拟系统压力测试。