浅谈IC引线框架尺寸检验方法

张朝红

1引言

引线框架是集成电路产品的重要组成部分，它的主要功能是为芯片提供机械支撑，并作为导电 介质连接集成电路外部电路，传送电信号， 以及与封装材料一起向外散发芯片工作时产生的热量。随着大规模集成电路和超大规模集成电路的发展 ，集成电路正朝着高集成化、多功能化，线路的高密度化，封装的多样化和高性能化发展，其对引线框架材料要求也将越来越高。

2 引线框架材料的要求

集成电路的许多可靠性都是由封装性能决定的，引线框架为芯片提供电通路、散热通路 、机械支撑等功能，I c 封装要示其必须具备高强度、高导电、导热性好， 以及良好的可焊性 ， 耐蚀性、塑封性、抗氧化性等

3 引线框架材料经冲压法大批量生产成个系列的引线框架，因是大批量生产，在首检、中检、终检就尤其重要。

4 下面就IC引线框架的尺寸检验进行介绍

4.1 FRAME THICKNESS

（1）检验设备：MICROMETER

（2）检验方法：1）在边界上测量厚度时，因为在STAMPING时发生的垂直BURR而造成测量值比实际厚度值增大，因此要测量在L/F RAIL部的中心，没有PILOT HOLE的位置；2）完全拧紧MICROMETER的回转手柄后把数字盘归为“0”；3）打开MICROMETER的回转手柄后把L/F的RAIL部和MICROMETER的测定部位对齐后从新拧紧回转手柄；4）连续响动3声，此时在MICROMETER数字盘上出现的数字就是FRAME THICKNESS。

4.2 FRAME WIDTH（条带的宽度）

（1）检验设备；COMPARATOR（20×），FIXTURE

（2）检验方法：1）将产品垂直放在测量夹具（检查夹具正确固定在COMPARATOR上）上固定好；

2）移動X方向的手柄到L/F一端的位置，移动Y方向的手柄用米子线压住L/F的一边，显示屏Y数据归“0”；3）再移动Y方向的手柄到另一边，用米子线压住L/F的另一边，此时显示屏中Y的数据即位FRAME WIDTH的值；4）用同样的方法测量L/F的另一端的FRAME WIDTH。

4.3 CUTTING OFF LENGTH（条带的切断长度）

（1）检验设备；COMPARATOR（2×），FIXTURE

（2）检验方法：1）将产品垂直放在测量夹具（检查夹具正确固定在COMPARATOR上）上固定好；2）移动X方向的手柄到L/F一端的位置，移动X方向的手柄用米子线压住L/F的一边，显示屏X数据归“0”；3）再移动X方向的手柄到L/F的另一端，用米子线压住L/F的另一边，此时显示屏中X的数据即位CUTTING OFF LENGTH的值；4）用同样的方法测量L/F的另一边的CUTTING OFF LENGTH。

4.4 PROGRESSIN （总步距）

（1）检验设备：COMPARATOR （20× ），FIXTURE

（2）检验方法：1）将产品垂直放在测量夹具（检查夹具正确固定在COMPARATOR上）上固定好；2）根据图纸标识的位置通过测量找到第一个PILOT HOLE的一边，然后将显示器上X轴归“0”；

3）移动COMPARATOR的X轴与图纸标识的位置上最后一个PILOT HOLE对应的一边对齐，这时数字盘上出现的值就是PROGRESSION的值。

注：根据图纸要求测量的部位进行测量，可以是圆、方孔。

4.5 UNIT PITCH（步距）

（1）检验设备：COMPARATOR （20× ），FIXTURE

（2）检验方法：1）将产品垂直放在测量夹具（检查夹具正确固定在COMPARATOR上）上固定好；

2）根据图纸标识的位置通过测量找到第一个PILOT HOLE的一边，然后将显示器上X轴归“0”；3）移动COMPARATOR的X轴与图纸标识的位置上相另邻位置的PILOT HOLE对应的一边对齐，这时数字盘上出现的值就是UNIT PITCH的值。

注：根据图纸要求测量的部位进行测量，可以是圆、方孔，测量时选择第一个步距和最后一个步距分别进行测量并记录。

4.6 SYMMETRY

（1）检验设备：COMPARATOR（20× ），FIXTURE

（2）检验顺序：1）将产品垂直放在测量夹具（检查夹具正确固定在COMPARATOR上）上固定好；

2）按产品图纸所示位置，找到需要测量的PILOT HOLE后先求的其Y方向的PILOT HOLE中心，并将显示器上Y轴归“0”；3）垂直移动COMPARATOR的Y轴，与RAIL的边缘水平线对齐，这时显示器Y轴上所显示值就是SYMMETRY的值。

4.7 D/S DEPTH

4.7.1 一般的D/S DEPTH的测量方法（两点法）

（1）检验设备：T/M（200× /25×），FIXTURE

（2）检验顺序：1）根据产品选择合适的FIXTURE，将其轻轻地放到T/M的工作台面上；2）将产品放在FIXTURE上用软吸条固定好；3）25×下在TIE BAR上10MIL的平坦区域选一点A，转动物镜到200×调焦归“0”；再将物镜转到25×下在PAD或TIE BAR上10MIL的平坦区域选一点B，转动物镜到200×调焦得出的Z值即为D/S DEPTH值（选点时如果有TOOL MAR的避开TOOL MARK在平坦区域选点测量）；4）一个UNIT中连接PAD的所有TIE BAR上都要测量，每个步距出来的UNIT都要测；记录一个MAX和MIN值。

注：对于初学者要在25×选点，200×调焦，熟练后可直接在200×下选点、调焦。

如图所示：

A

B A点到B点的高度差

5 总结

通过上述的尺寸检验，再加上引线框架的外观检查及功能检查，如三项都合格，那么就算合格的引线框架产品了。

参考文献：

[1]杨攀 .IC引线框架产品简介及其模具设计和制造[J].模具制造 ，2003（09）：132.