双频大气压冷等离子体射流制备TiO2的表面形貌研究

2018-05-30 09:18袁强华张亚东鉴霄阳
关键词:锐钛矿谱线催化活性

袁强华,李 洋,张亚东,鉴霄阳

(西北师范大学 物理与电子工程学院,甘肃 兰州 730070)

当今社会经济与工业快速发展的同时,也带来了能源危机与环境污染这两大问题,而水污染更是亟待解决的问题.半导体光催化剂可以利用太阳能将水中的有机污染物降解成CO2和H2O等无毒无害的产物,因此越来越多的研究者投身于半导体光催化剂的研究中[1-3].半导体光催化剂的催化原理简单,当一定能量(能量大于禁带宽度)的光照射到半导体光催化剂表面时,价带的电子会跃迁到导带上,形成导带电子,同时产生光致电子-空穴对.电子和空穴分别具有强还原性和强氧化性,可参与到污染物的氧化还原反应过程中.在众多的半导体光催化剂中,TiO2更是备受关注.因为它无毒无害,制作成本低,而且化学性能稳定,光催化活性高[4-7].但是TiO2作为宽禁带的n型半导体,也存在一些缺陷,例如可见光区域(380~780 nm)无光响应,光生载流子复合率较高等[8-11].而这都会限制TiO2的光催化活性.其实,影响TiO2光催化活性的因素有很多,比如晶型、比表面积和禁带宽度等.

TiO2的晶型有三种,板钛矿型、锐钛矿型和金红石型.其中板钛矿型不是很稳定,只存在自然界里,很难进行人工合成.锐钛矿型在低温下比较稳定,而到了高温条件下便会转化成金红石型[12].金红石型的禁带宽度为3.0 eV,锐钛矿型的禁带宽度为3.2 eV.而由于金红石型比表面积小,对O2的吸附能力较差,电子迁移率低,导致光生电子空穴容易发生复合,所以它的光催化活性比锐钛矿型低.光催化反应过程发生在TiO2颗粒的表面,大的比表面积会产生更多的活性基团,并且可以增加催化剂与有机污染物的接触概率,因此比表面积更大,光催化活性也就更高[13].目前研究人员已经制备出了很多种形貌的TiO2,例如片状、管状、带状还有球状[14-15].窄化禁带宽度可以提高TiO2的光吸收能力,使其在可见光范围内也可以有光响应,从而可以提高太阳光的利用率[16].研究表明,对TiO2进行金属离子掺杂(如Ag,Au,Fe等)[17-20]或者非金属元素掺杂(如C,N,S等)[21-23]都可以使其禁带宽度变窄.但掺杂金属离子存在一些缺点,如热稳定性较差,并且会使载流子复合中心增加,加速光生电子空穴的复合.目前认为最有发展前景的是N元素掺杂TiO2.

制备TiO2晶体的方法有很多,如溶胶-凝胶法、水热法、静电纺丝法和化学气相沉积法等[24-26].其中等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)备受研究者的关注,因为其制备周期短、过程无污染、设备简单、容易操作,并且随着科技的发展,大气压冷等离子体技术已经在材料的制备方面有了很多的应用.这种技术不需要复杂昂贵的真空设备,可以连续操作,反应温度低,能耗低,无污染[27].但是由于其操作过程中能量密度低,所以很难一步获得晶度较高的TiO2材料.要得到高晶度高活性的TiO2晶体,就需要通过进一步的高温处理.高温处理后的TiO2容易产生团聚现象,从而影响光催化活性.研究发现,等离子体驱动电源对等离子体反应过程有很大的影响.低频驱动的大气压等离子体电子密度低,但电场强度高,产生的等离子体羽长;射频驱动的大气压等离子体电子密度高,附加热量高,等离子体羽短.双频驱动下的大气压冷等离子体射流结合了低频和射频的优势,有较高的电子温度,较强的化学活性,且等离子体羽长,反应温度低,可以通过一步法制备出高结晶度的TiO2晶体[28-29].

本实验中,使用双频(100 kHz/100 MHz)驱动冷等离子体在大气压下制备TiO2.N2携带的钛酸异丙酯(TTIP)作为钛源,放电气体为Ar/O2.实验改变射频输入功率和低频输入电压,探究不同放电参数对制备的TiO2表面形貌的影响并对其光学特性和电学特性进行分析.

1 实验部分

1.1 实验装置

实验装置见图1.该装置采用的是一种自制的针-环电极,其主体部分是一个总长为90 mm的石英管,进气口到喷口的距离为60 mm,喷口的外径为5 mm,内径为3 mm.针电极采用的是直径为2 mm的钨针,由100 kHz的低频电源(CORONALab CTP-2000 K)驱动.环电极采用的是25 mm宽的铜环,铜环环绕在石英管的外侧,由100 MHz的射频电源(rishige RSGK100)驱动.射频电源的输入功率可以通过射频分析仪(Octiv Suite sensor unit)检测.气体的流量通过3台质量流量计控制.其中,放电气体Ar(99.999%)的流量为1 000 mL·min-1,反应气体O2(99.999%)的流量为20 mL·min-1.盛放TTIP的鼓泡系统放在恒温水浴锅中加热到80 ℃,再由N2携带TTIP进入放电区域,其中N2(99.999%)的流量控制在75 mL·min-1.基底为硅基底.先将硅基底放在超声波清洗仪中用乙醇溶液清洗30 min,再用去离子水清洗30 min.清洗结束后,将硅基底放在石英管喷口下方2 mm处.

图1 实验装置图

1.2 实验与表征

实验中保持气体流量不变,低频输入电压为3 500 V,射频输入功率为100 W,此时制备的样品标记为S1;低频输入电压为3 500 V,射频输入功率为110 W,此时制备的样品标记为S2;当低频输入电压为4000 V,射频输入功率为110 W时制备的样品标记为S3.样品制备的时间为1h.样品的形貌由扫描电子显微镜(FE-SEM,Ultra Plus,Carl Zeiss,German)检测.样品的结晶度与结构特性由拉曼光谱(Raman,HORIBA Jobin Yvon)检测.等离子体的光发射谱由一个八通道的光纤光谱仪(Avaspec-2048-8)检测.等离子体的电学特性由射频分析仪检测.

2 结果与讨论

2.1 表面形貌

图2为样品S1的SEM图像,可以看到此时所制备的样品基本为纳米纤维结构,纤维的直径约为23 nm.而在这些纳米纤维中存在着少量团聚的颗粒.图3为将射频的输入功率增加到110 W时制备的样品S2.从图3a中可以看出所制备的样品分散性较好,呈现出大面积均匀而光滑的球体结构,而再没有纳米纤维结构的存在.这是因为在等离子体的放电区域,存在着较高的能量和较多的活性基团,当能量达到一定时,TiO2颗粒具有了较高的表面能和活性,其表面的原子变得不稳定,接下来就会结合成表面能最低的球形.通过图3b可以看到这些球体颗粒的粒径大约在1 300~1 800 nm的范围内.并且通过截取的破裂球体颗粒可以看出,这些球体是属于中空球结构的.中空球结构拥有大的比表面积,这样的结构表面可以承载更多的活性基团,而且增加与反应物的接触概率,更有利于TiO2光催化反应的进行.图4为射频功率保持在110 W,将低频输入电压增大到4 000 V时所制备的样品S3.由图4a可以看到,制备的样品虽然还是大面积地呈现出球体结构,但存在一定程度的团聚现象.而团聚现象的出现会降低TiO2的光催化活性,所以在制备过程中应尽量避免这种情况的发生.并且从图4b可以看到,球体已经变得不再光滑而是出现了塌陷,球体的粒径范围大约为1 200~2 000 nm.这是因为低频输入的电压较高,产生了过高的能量,而最终导致颗粒形貌结构的塌陷.因此,低频和射频输入的能量都会对样品的形貌产生影响,要想得到理想的形貌,必须调节好低频电压和射频功率.

图2 样品S1的SEM图

图3 样品S2的SEM图

图4 样品S3的SEM图

2.2 结构分析

如图5给出了样品S1与样品S2的Raman谱.其中,在520 cm-1处的峰是硅的振动峰,来源于硅基底.由Raman谱可以看出,这两种情况下制备的样品都是含有锐钛矿相和金红石相的混晶体.其中,144,395,636 cm-1分别对应着TiO2锐钛矿相的Eg振动模型,B1g振动模型,以及Eg振动模型.而在444 cm-1处有一个微弱的峰,这对应着金红石相的Eg振动模型.对比S1和S2的Raman谱可以发现,样品S2有更高的峰强度,并且有更窄的半峰宽度,这说明样品S2比样品S1的结晶性更好.这可能是因为在制备样品S2时,射频的功率更高,从而提供了更高的能量,产生了更多的活性粒子,从而提高了TiO2的结晶度.

图5 样品S1和S2的Raman谱

2.3 发射光谱分析

图6给出了保持气体流量和低频电压不变,射频功率为80,100,110,120 W时制备TiO2检测到的发射光谱.在289.1和315.5 nm处分别是钛离子(Ti Ⅱ)和中性钛(Ti Ⅰ)的发射谱线.在337.1,357.5,380 nm处为激发态N2(C3Ⅱu)的第二正带系发射谱线.511.6 nm处C2的存在主要来源于先驱体TTIP的解离.Ar Ⅰ的发射谱线主要集中在600~1000 nm范围内.图7为不同射频功率下Ti Ⅰ,N2,C2,Ar Ⅰ和O Ⅰ的发射谱线强度,由图可以看到,随着射频放电功率的增加,Ti Ⅰ,N2,C2,Ar Ⅰ和O Ⅰ的发射谱线相对强度都在增加,并且,Ti Ⅰ,N2,C2,Ar Ⅰ和O Ⅰ的发射谱线相对强度的增加趋势是相同的,从80 W到100 W之间是缓慢增加的,而在100 W到120 W范围内增加的较快.但Ar Ⅰ的发射谱线相对强度从80 W到120 W的过程中增加的并不是很多,仅增加了约38%.这可能是因为更高的射频放电功率,输入了更高的能量,但这些能量很大一部分用于了先驱体TTIP还有N2和O2的解离.并且可以看到当射频功率为80 W时,Ti Ⅰ(315.5 nm)的相对强度较低(射频功率小于80 W时,Ti Ⅰ发射谱线强度更低),发射光谱中几乎找不到钛的谱线.直到射频功率增加到100 W时,才有明显的钛离子和中性钛的发射谱线出现.当射频功率达到120 W时,Ti Ⅱ(289.1 nm)和Ti Ⅰ(315.5 nm)的谱线强度明显增加.事实上,低频电压保持不变,若射频功率过低,很难进行TiO2的沉积,实验是不成功的.这就是在进行TiO2薄膜沉积时,选择100 W以上射频功率的原因.

图6 不同射频功率下等离子体的发射光谱

2.4 电流电压波形分析

图8为稳定放电后,射频源输入功率为100 W和110 W时的电流电压波形图.从图中可以看出电源频率为100 MHz.图中电流和电压的波形图都是平滑的正弦图像,说明此时等离子体是持续稳定的在进行放电.而且,由于电路属于非线性的容性负载电路,所以每个放电周期中,电流都超前电压.比较图8a-b,可以看到当射频功率增加时,电流和电压都有相应的增加.电流的增加使等离子体中的电子密度增加,从而增加了电子与各基团物种的碰撞几率,加强了能量的传递.这也很好地解释了射频功率为110 W时,等离子体中钛、氮物种谱线的增强和制备样品结晶性的提高.

图7 不同射频功率下Ti Ⅰ,N2,C2,Ar Ⅰ和O I的 发射光谱强度

图8 射频功率为100 W和110 W时的 电流电压波形图

3 结束语

使用双频大气压冷等离子体射流成功制备出了混晶相的TiO2,通过改变等离子体的放电参数来探究TiO2的表面形貌.样品的SEM图显示改变低频和射频的放电参数会对TiO2的形貌产生很大的影响,能够制备出纳米纤维状、球状还有塌陷球状的TiO2.Raman谱显示制备的TiO2为结晶性较好的混晶相.通过等离子体的发射光谱图和电流电压波形图可以看到,增加射频功率,会产生更多的能量来用于等离子体反应.总之,在进行TiO2的制备时,要控制好电源的输入功率,输入过高的能量会导致粒子的团聚和结构的塌陷,从而影响光催化活性,输入过低的能量则不能进行TiO2的沉积,导致实验的失败.

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