支持张量回归在分类中的应用

2015-05-30 06:27张建光安达陈慧
2015年51期
关键词:张量

张建光 安达 陈慧

摘 要:多媒体分类已经成为多媒体处理领域的重要研究内容。传统基于向量的分類算法需要将多媒体向量化。向量化的过程导致多媒体空间信息的丢失和高维向量数据的产生。为了解决向量化带来问题,张量作为多媒体的自然表达,成为多媒体分类问题的研究热点。本文基于张量的Tucker分解,提出了支持张量回归分类模型,用来直接进行张量多媒体数据的分类操作。通过在两个2阶灰度图数据集构造分类实验,验证了本文所提方法在多媒体分类上的有效性。

关键词:多媒体分类;张量;Tucker分解

一、引言

目前,很多基于向量的多媒体分类方法被提出,比如:支持向量回归(Support Vector Regression,SVR)分类模型[1]。但是这些方法存在两个问题。(1)向量化会导致“维度灾难”问题[2]。(2)向量化会破坏多媒体数据的空间结构[3],因此降低了分类准确率。

为了解决多媒体向量化导致的问题,本文提出了一个基于Tucker分解的张量学习模型。该模型是对支持向量回归的张量扩张,因此称为支持Tucker回归(Support Tucker Regression, STuR)。本文利用两个模型进行张量多媒体的分类处理,用以分析两个模型的有效性。

二、支持Tucker回归算法

式(2)中有N+1个参数需要进行训练估计,式(2)对N+1个参数不是联合凸函数,但是当固定其他参数,式(2)对任意一个参数是凸函数,因此可以采用交叉优化的方法对式(2)进行优化。

当获得G;U1,U2,…,UN以后,即可重构参数张量。最终获得核张量维度为R的张量参数W,即可进行分类处理。

三、实验结果及分析

本节将对本文提出的支持Tucker回归算法(STuR)进行评估。在两个2阶灰度图像数据集上(binary alpha digits(BAd)①,USPS②),与SVR算法[1]和逻辑回归(logistic regression,LR)算法[4]进行对比。每一幅灰度图的大小被定义为12×12个像素。我们将灰度图数据集随机分为训练数据和测试数据两部分。每一类随机选取1一个图像作为训练数据,其他图像作为测试数据。随机测试5次,以5次的平均值作为最终结果。

实验中使用所有类的平均准确率(Average accuracy)来评估算法的效果.所有算法的参数调试范围设置在{10-6,10-5,…,105,106}范围内,然后选取最优的结果作为最终结果。

(一)实验结果比较

表1表示本文提出的算法STuR与对比算法在2个不同数据集上的对比结果。最优的结果使用黑色字体标出。从表1的平均准确率比较结果中,我们能够看到:与向量算法RR,SVR相比,STuR取得了更好的分类精度,原因在于张量的学习方法能避免向量化带来的空间结构的损失,充分利用图像数据的张量空间信息。

(二)参数分析

图1本文算法STuR在两个数据集上的对参数λ的分析。(a)BAd,(b)USPS。

通过调整本文算法STuR的参数λ,两个数据集的调参结果如图1所示。我们在图1中发现:算法STuR取得最优值时,参数λ的取值分别是:BAd:λ=0.01,USPS:λ=0.1。

四、结论

在本文中,我们提出了基于Tucker分解的支持张量回归算法。通过和当前流行的向量算法进行比较,表明本文提出的方法在平均准确率上分类性能更好。(作者单位:衡水学院数学与计算机科学学院)

注解:

① http://algoval.essex.ac.uk/.

② http://www.cad.zju.edu.cn/home/dengcai/Data/MLData.html.

参考文献:

[1] Cortes,C.Vapnik,V.Support vector machine.Machine learning,1995,20(3),273–297.

[2] Guo,W.Kotsia,I.Patras,I.Tensor learning for regression.IEEE Trans Image Process,2012,21(2):816–827.

[3] Zhang,Jianguang and Han,Yahong and Jiang,Jianmin,Tucker decomposition-based tensor learning for human action recognition.Multimedia Systems,DOI:10.1007/s00530-015-0464-7,2015

[4] Genkin,A.Lewis,D.Madigan,D.Large-scale bayesian logistic regression for text categorization.Technometrics,2007,49(3),291–304.

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